Spectral-ellipsometric examining the films of gold nanoparticles on Si/SiO2 substrate

Мова статті: 
Англійська
Автор(и) статті: 
E.G.Bortchagovsky, V.Z.Lozovski, T.O.Mishakova, K.Hingerl
Вихідні данні статті: 
Semicond. Phys. Quantum Electronics & Optoelectronics, Vol.15, N4, p.360-364, 2012
Назва журналу: 
Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics
Рік публікації: 
2012
Volume: 
15
Issue: 
4
Ключові слова: 
Ellipsometry, nanoparticles
Ключове слово: 
nanoparticles
Ключове слово: 
ellipsometry
Назва підрозділу: 
Кафедра математики, теоретичної фізики і комп-рних технологій
ІНСТИТУТ ВИСОКИХ ТЕХНОЛОГІЙ Матеріали дозволено використовувати на умовах GNU FDL без незмінюваних секцій та Creative Commons Attribution/Share-Alike
Дизайн: Інститут високих технологій
Ivan Ivanov