Experimental examination of films of gold nanoparticles on Si/SiO2 substrate by ellipsometry

Мова статті: 
Англійська
Автор(и) статті: 
E.G.Bortchagovsky, V.Z.Lozovski, T.O.Mishakova, L.K.Hinger
Вихідні данні статті: 
Semicond. Phys., Quant. Electronics and Optoelectronics 15, 360-363
Назва журналу: 
Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics
Рік публікації: 
2012
Volume: 
15
Ключові слова: 
-
Ключове слово: 
-
Назва підрозділу: 
Кафедра математики, теоретичної фізики і комп-рних технологій
НДЧ
ІНСТИТУТ ВИСОКИХ ТЕХНОЛОГІЙ Матеріали дозволено використовувати на умовах GNU FDL без незмінюваних секцій та Creative Commons Attribution/Share-Alike
Дизайн: Інститут високих технологій
Ivan Ivanov