An internal reflection mode for tip enhanced spectroscopy and a near field Raman probe

Назва конференції: 
12th international conference on near-field optics, nanophotonics and related techniques, NFO-12, San Sebastian (Spain), September 2012
Назва конференції (тільки ім'я): 
International conference on near-field optics, nanophotonics and related techniques
Номер конференції: 
12th
Країна: 
Spain
Місто: 
San Sebastian
Сторінки: 
212
Кількість сторінок: 
1
Вихідні данні тез: 
Fontein F., Fuchs H., Bortchagovsky E.G., Fischer U., “An internal reflection mode for tip enhanced spectroscopy and a near field Raman probe”, 12th international conference on near-field optics, nanophotonics and related techniques, NFO-12, San Sebastian (Spain), September 2012, Book of abstracts, TuP-088, p.212.
Рік: 
2012
Дата проведення: 
September 2012
Автор(и): 
Fontein F., Fuchs H., Bortchagovsky E.G., Fischer U.
Мова: 
Англійська
Назва підрозділу: 
Кафедра математики, теоретичної фізики і комп-рних технологій
ІНСТИТУТ ВИСОКИХ ТЕХНОЛОГІЙ Матеріали дозволено використовувати на умовах GNU FDL без незмінюваних секцій та Creative Commons Attribution/Share-Alike
Дизайн: Інститут високих технологій
Ivan Ivanov